SJ/T 10216-1991 磁性氧化物粉末密度测定振实密度的测定.pdf 免费下载

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GBT 7016-1986规范

GBT 7016-1986规范

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3GBT 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范
4GBT 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方
5GBT 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
6GBT 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针
7GBT 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
8GBT 15132.1-1994 信息处理 数据交换用130mm双频
9GBT 15132.2-1994 信息处理 数据交换用130mm双频
10GBT 11501-1989 摄影密度测量的光谱条件
11GBT 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容
12GBT 14809-2000 高频介质加热设备输出功率的测定
13GBT 11433-1989 磁性氧化物制成的管、针、柱磁芯
14GBT 11384-1989 信息处理 数据交换用200mm 改进调
15GBT 11385-1989 信息处理 数据交换用200mm 改进调
16GBT 13716-1992 信息处理 数据交换用130mm改进调
17GBT 13717-1992 信息处理 数据交换用130mm改进调
18GBT 13718-1992 信息处理 数据交换用130mm改进调
19GBT 24582-2009 酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定
20GBT 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试
21GBT 4193-1984 电真空器件及电光源用细钨丝,钼丝
22GBT 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试
23GBT 4196-1984 钨、钼条密度测定方法
24SJ 3172-1988 磁性氧化物制成的EI型磁芯及其附件
25GBT 7241-1987 铬版光密度的测试方法
26GB 3311-1982 钨铈合金中铈的测定 氧化还原容量法
27GB 3312-1982 钨钍合金中二氧化钍的测定 重量法
28GBT 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
29SJ/Z 1172-1977 电镀溶液分散能力的测定方法
30GBT 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
31SJ/Z 1173-1977 电镀溶液电流效率的测定方法
32GBT 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光
33GBT 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法
34GBT 3313-1982 钨铼合金中铼的测定 丁二酮肟比色
35GBT 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅
36SJ/T 10626-1995 键合金丝中杂质元素的ICP-AES测
37GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针